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航空插头插座绝缘失效的原因
    对航空插头插座失效品和正常品进行高温试验,高温冷却后的样品测试绝缘,分别和结果表明,故障产品含有一定量的水分在航空插头,与此同时,水的存在和高温会降低军用航空插座的绝缘电阻。
    然后对军用航空插座故障产品拆卸实验,发现航空插头剩余内部绝缘组件有浅蓝色的腐蚀,光一层金属薄膜,失败航空插头之前和之后的拆迁封装胶绝缘电阻测试,结果表明,失败后拆卸军用航空插座的绝缘合格,并封装胶测试其绝缘电阻是正常的。
    所有金属部件的军用航空插座EDS测试,结果表明,金属条的金属部件的表面镀银的铜锌合金,和其他金属部件没有铜锌银原料,浅蓝色的腐蚀,和迁移的银膜是金属与金属接触一条组件,所有组件的绝缘,红外分析结果表明,该绝缘组件分别有聚酯,硅胶,PVC(封装胶),分别对封装胶和正常封装脱胶商品用于离子色谱分析,结果表明,氯离子含量的失败产品包装胶是正常产品的1.8倍,潮湿环境中氯离子的存在会大大促进金属部件的腐蚀和离子导电路径的形成。

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